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當(dāng)前位置:美國(guó)儀器集團(tuán)>>產(chǎn)品展示>>納米力學(xué)測(cè)試儀器
PI-85納米壓痕儀可以集成在掃描電子顯微鏡(SEM)里的一個(gè)深度控制納米力學(xué)檢測(cè)儀系統(tǒng)。通過(guò)這個(gè)系統(tǒng)能夠同時(shí)進(jìn)行量化納米力學(xué)性能檢測(cè)和SEM形貌觀察。
瑞士CSM儀器公司的超納米壓痕測(cè)試儀器專(zhuān)門(mén)為要求超高分辨率壓入載荷與位移的*用戶(hù)設(shè)計(jì)制造。
TI-950 納米壓痕儀是*的納米力學(xué)檢測(cè)儀器,提供了業(yè)界*的靈敏度和*的性能。TI-950 設(shè)計(jì)為自動(dòng)的、高通量?jī)x器,支持 Hysitron開(kāi)發(fā)的許多納米力學(xué)...
Hysitron TI-950型納米壓痕儀/納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)用于納米壓痕測(cè)試、納米劃痕測(cè)試、納米摩擦磨損和原位SPM成像。
安捷倫 Nano Instruments推出的新型Nano Indenter G200,是在微、納米尺度上研究材料性質(zhì)的zui為*的測(cè)試平臺(tái)。
主要用于納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測(cè)試,測(cè)試結(jié)果通過(guò)壓入載荷大小與壓入深度的曲線計(jì)算得出,無(wú)需通過(guò)顯微鏡觀察壓痕面積。
The MML NanoTestTM 系統(tǒng)是一臺(tái)多功能的納米性能測(cè)試系統(tǒng), 提供全面的納米機(jī)械和納米摩擦測(cè)量。
PI-95納米壓痕儀是*個(gè)成熟的在透射電子顯微鏡(TEM)內(nèi)直接觀察納米力學(xué)行為的深度控制檢測(cè)系統(tǒng)。
Innova是布魯克公司(Bruker AXS)所有掃描探針顯微鏡產(chǎn)品中的一款產(chǎn)品,其閉環(huán)掃描的噪音水平接近一些開(kāi)環(huán)掃描系統(tǒng)的水平,可廣泛應(yīng)用于器件表征、物理、...
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